詳細摘要: 蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結合了高分辨率場發射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優異加工能力。
產品型號:Crossbeam 350所在地:深圳市更新時間:2025-11-19 在線留言
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